纳米颗粒电子显微法识别

电子显微法，主要是利用一系列显微镜直接对颗粒进行观察，常用且放大倍数极高的显微镜代表主要有两类，一类有扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)，另一类有扫描电子显微镜((SEM)和透射电镜((TEM)等，通过显微镜可以直接观察纳米颗粒的形貌及分布特征，特别是对于颗粒粒度大小的测量，既直观又非常方便，所以电子显微法在纳米研究领域中是一种非常重要的方法。其中透射电镜因其更高的分辨率及更直观的效果而应用更多。透射电镜工作原理与光学显微镜相似，但是它的分辨率和放大倍数更高，分辨率可达到0.1~0.2nm，所得到的纳米图像清晰直观，可以揭示一列分子乃至原子的结构，因此被广泛应用于材料科学与生命科学领域，是研究纳米材料的常用重要分析仪器之一。那么对基于透射电镜下的纳米颗粒图像做进一步处理分析，可以使结果更清晰明了，更有助于纳米材料的研究。