中材新材料研究院-透射电镜TEM测试-扫描电镜SEM测试-离子束FIB加工-TEM制样检测-FIB制样检测-SEM制样检测-Sinoma Institute of Materials Research (SIMR)

TEM明场像

TEM暗场像

选区电子衍射

高分辨像

HAADF像

能谱点测

能谱线测

能谱面扫

SEM背散射像

SEM二次电子像
粉末/生物样品制备

块体样品平面制样

块体样品截面制样

FIB制样

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2021-08-04 39 《Transmission Electron Microscopy 》顶级教材.zip

701 18.77 MB

2021-08-04 38 《Transmission Electron Microscopy 》顶级教材.zip

651 11.34 MB

2021-08-04 37 Transmission_Electron_Microscopy.zip

605 38.19 MB

2021-08-04 36 The_Transmission_Electron_Microscope.zip

591 69.43 MB

2021-08-04 35 Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology.zip

593 11.24 MB

2021-08-04 34 Transmission_Electron_Microscopy_Physics of Image Formation.zip

605 9.13 MB

2021-08-04 33 Theoreticla aspects of Scanning Transmission Electron Microscopy.zip

613 7.73 MB

服务项目

中材新材料研究院参加2019年度亚太材料科学学院（APAM）国际学术会议

넶725 04月21日
中材新材料研究院参加第二十二届中南六省电子显微镜学术交流会暨2019年广东省电镜学会年会

넶445 04月21日
SEM、TEM测试常见20问

넶786 04月21日
如何提取透射电镜样品及要求

넶485 04月21日

公司动态

关于我们

　　专业人做专业事。各行业的大趋势都是向精细化、专业化方向发展。只有精细分工和高度专业化，才能产生一流的产品和服务。
　　中国的材料工艺研发和材料科学研究正处于蓬勃发展的高速增长期，数量和质量都在迅速增长。在材料研发和研究领域，微观结构和微观效应成为日益关注的重点，合理准确地进行表征成为社会难题。
　　而今，中材新材料研究院应运而生——专业从事材料微观检测与分析，具有专业透射电子显微检测与分析水平。中材工程师从事TEM检测与分析工作十年以上，累计操作TEM设备超过8000小时，拍摄TEM图片15万张以上，经验丰富而专业。

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透射动态

透射电镜（TEM）能谱数据如何分析？

还不会分析TEM能谱数据吗？快来看看吧！

넶2774 2020-08-13
科研必备|有关透射电镜（TEM）领域的缩写

透射电镜（TEM）方面的专有缩写，加速你的写作，快快收藏吧~

넶517 2021-02-23
关于非弹性散射带来的电子束损伤

非弹性散射能给出许多有用信号（除能量损失的电子外，最重要的信号是特征X射线、二次电子以及可见光（荧光CL）），但同时也带来了负面效应，即电子损伤，不太准确地称这种现象为“辐照损伤”。影响样品结构和化学性质的损伤主要决定于电子束能量。有些材料对辐照非常敏感，电子束很容易损伤放进TEM中的样品，尤其是球差矫正电镜入射束斑的能量更集中，更容易损伤样品。因此，电子损伤陈给TEM应用中的一个实际物理限制，被认为是显微学家的海森堡不确定原理，也就是说观察样品的同时也改变了样品。

넶0 2023-07-24
TEM中如何计算析出相数密度以及利用CBED计算样品厚度

TEM中如何计算析出相数密度以及利用CBED计算样品厚度

넶3 2023-07-10
基础知识12——TEM粉末样品制备方法

制备好的TEM样品必须对电子束透明，即电子束能够穿透样品，而且能代表想要研究的材料。电子透明样品的厚度是电子能量和样品平均原子序数（Z）的函数，不同样品要求的厚度会有所差异。一般要求样品厚度在100nm以下

넶7 2023-07-17