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中材新材料研究院参加2019年度亚太材料科学学院(APAM)国际学术会议
넶725 04月21日 -
中材新材料研究院参加第二十二届中南六省电子显微镜学术交流会 暨2019年广东省电镜学会年会
넶445 04月21日 -
SEM、TEM测试常见20问
넶786 04月21日 -
如何提取透射电镜样品及要求
넶485 04月21日
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关于非弹性散射带来的电子束损伤
非弹性散射能给出许多有用信号(除能量损失的电子外,最重要的信号是特征X射线、二次电子以及可见光(荧光CL)),但同时也带来了负面效应,即电子损伤,不太准确地称这种现象为“辐照损伤”。影响样品结构和化学性质的损伤主要决定于电子束能量。有些材料对辐照非常敏感,电子束很容易损伤放进TEM中的样品,尤其是球差矫正电镜入射束斑的能量更集中,更容易损伤样品。因此,电子损伤陈给TEM应用中的一个实际物理限制,被认为是显微学家的海森堡不确定原理,也就是说观察样品的同时也改变了样品。
넶0 2023-07-24 -
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基础知识12——TEM粉末样品制备方法
制备好的TEM样品必须对电子束透明,即电子束能够穿透样品,而且能代表想要研究的材料。电子透明样品的厚度是电子能量和样品平均原子序数(Z)的函数,不同样品要求的厚度会有所差异。一般要求样品厚度在100nm以下
넶7 2023-07-17